AOI雖然具(ju)有(you)比人(ren)工(gong)(gong)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)更高的(de)(de)效率，但(dan)畢竟是通過圖(tu)像(xiang)采(cai)集和分析處(chu)理(li)來得出(chu)結(jie)果，而圖(tu)像(xiang)分析處(chu)理(li)的(de)(de)相關(guan)軟件(jian)(jian)技術(shu)目前(qian)還沒達到人(ren)腦(nao)的(de)(de)級別，因此，在實(shi)際使用(yong)中的(de)(de)一些特殊情況，AOI的(de)(de)誤(wu)判(pan)(pan)(pan)(pan)、漏(lou)判(pan)(pan)(pan)(pan)在所(suo)難免(mian)。目前(qian)AOI使用(yong)中存在的(de)(de)問題(ti)有(you)：（1）多錫、少錫、偏(pian)移、歪(wai)斜的(de)(de)工(gong)(gong)藝要求標準(zhun)界(jie)定不(bu)(bu)同，容(rong)(rong)易導致誤(wu)判(pan)(pan)(pan)(pan)。（2）電(dian)容(rong)(rong)容(rong)(rong)值(zhi)不(bu)(bu)同而規(gui)格(ge)大(da)小(xiao)和顏色相同，容(rong)(rong)易引(yin)起(qi)漏(lou)判(pan)(pan)(pan)(pan)。（3）字符處(chu)理(li)方式不(bu)(bu)同，引(yin)起(qi)的(de)(de)極性判(pan)(pan)(pan)(pan)斷(duan)準(zhun)確性差異(yi)較(jiao)大(da)。（4）大(da)部分AOI對虛(xu)焊(han)的(de)(de)理(li)解(jie)發生歧義(yi)，造成漏(lou)判(pan)(pan)(pan)(pan)推諉。（5）存在屏蔽(bi)圈、屏蔽(bi)罩遮蔽(bi)點的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)問題(ti)。（6）BGA、FC等倒裝元(yuan)件(jian)(jian)的(de)(de)焊(han)接質(zhi)量難以(yi)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)。（7）多數(shu)AOI編(bian)程復雜(za)、繁(fan)瑣且調整時間長，不(bu)(bu)適合科研單位(wei)、小(xiao)型OEM廠(chang)、多規(gui)格(ge)小(xiao)批量產品(pin)的(de)(de)生產單位(wei)。（8）多數(shu)AOI產品(pin)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)速(su)度較(jiao)慢，有(you)少數(shu)采(cai)用(yong)掃描方法的(de)(de)AOI速(su)度較(jiao)快，但(dan)誤(wu)判(pan)(pan)(pan)(pan)、漏(lou)判(pan)(pan)(pan)(pan)率更高。AOI在SMT各工(gong)(gong)序的(de)(de)應用(yong)在SMT中，AOI主要應用(yong)于焊(han)膏印刷檢(jian)(jian)(jian)測(ce)、元(yuan)件(jian)(jian)檢(jian)(jian)(jian)驗、焊(han)后(hou)組(zu)件(jian)(jian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)。河源直銷SPI檢(jian)(jian)(jian)測(ce)設備價格(ge)行情

2.2解(jie)決相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)誤(wu)(wu)(wu)差(cha)的(de)(de)新技(ji)術PMP技(ji)術中另一個主要(yao)的(de)(de)基礎條件就(jiu)是(shi)對(dui)于(yu)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)誤(wu)(wu)(wu)差(cha)的(de)(de)控制。相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)法通(tong)過(guo)對(dui)投影光柵(zha)(zha)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)場進行(xing)移(yi)(yi)(yi)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)來增加(jia)若干常(chang)量相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)而(er)得(de)到多(duo)幅光柵(zha)(zha)圖(tu)來求解(jie)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)場。由于(yu)多(duo)幅相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)圖(tu)比單幅相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)圖(tu)提(ti)供了(le)更多(duo)的(de)(de)信息，所(suo)以(yi)可以(yi)得(de)到更高(gao)精度的(de)(de)結果。傳統的(de)(de)方式(shi)都(dou)依(yi)靠機(ji)械(xie)移(yi)(yi)(yi)動(dong)來實現相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)。為達(da)到精確的(de)(de)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)，都(dou)使(shi)用了(le)比較(jiao)高(gao)精度的(de)(de)馬(ma)達(da)，如通(tong)過(guo)陶瓷壓電馬(ma)達(da)（PZT），線性馬(ma)達(da)加(jia)光柵(zha)(zha)尺等(deng)方式(shi)。并通(tong)過(guo)大量的(de)(de)算法來減少相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)的(de)(de)誤(wu)(wu)(wu)差(cha)。可編程結構光柵(zha)(zha)因為其正弦光柵(zha)(zha)是(shi)通(tong)過(guo)軟件編程實現的(de)(de)，所(suo)以(yi)其在相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)時也是(shi)通(tong)過(guo)軟件來實現，通(tong)過(guo)此種技(ji)術可以(yi)使(shi)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)誤(wu)(wu)(wu)差(cha)趨(qu)向于(yu)“0”，提(ti)高(gao)了(le)量測(ce)精度。并且此技(ji)術不需(xu)要(yao)機(ji)械(xie)部件，減少了(le)設(she)(she)備(bei)的(de)(de)故障(zhang)幾率(lv)，降低(di)機(ji)械(xie)成本與(yu)維修成本。廣(guang)東(dong)全自動(dong)SPI檢(jian)測(ce)設(she)(she)備(bei)技(ji)術參數檢(jian)測(ce)誤(wu)(wu)(wu)判(pan)的(de)(de)定義及存在原困(kun)誤(wu)(wu)(wu)判(pan)，歡迎(ying)了(le)解(jie)詳細(xi)情況(kuang)。

PCBA工(gong)藝常(chang)見檢(jian)測(ce)設(she)(she)備ATE檢(jian)測(ce)：AutomaticTestEquipment集(ji)成電(dian)(dian)路(IC)自動測(ce)試機(ji)，用于檢(jian)測(ce)集(ji)成電(dian)(dian)路功(gong)能之完整性(xing)，為集(ji)成電(dian)(dian)路生產制(zhi)造之終流(liu)程(cheng)(cheng)(cheng)，以(yi)確保集(ji)成電(dian)(dian)路生產制(zhi)造之品質。在(zai)所(suo)有的(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)元器(qi)件(Device)的(de)(de)(de)制(zhi)造工(gong)藝里面，存(cun)在(zai)著(zhu)去偽(wei)存(cun)真(zhen)的(de)(de)(de)需要(yao)(yao)，這(zhe)種(zhong)(zhong)需要(yao)(yao)實(shi)際上是(shi)(shi)一(yi)個(ge)試驗(yan)的(de)(de)(de)過(guo)(guo)(guo)程(cheng)(cheng)(cheng)。為了(le)實(shi)現這(zhe)種(zhong)(zhong)過(guo)(guo)(guo)程(cheng)(cheng)(cheng)，就需要(yao)(yao)各(ge)(ge)種(zhong)(zhong)試驗(yan)設(she)(she)備，這(zhe)類設(she)(she)備就是(shi)(shi)所(suo)謂(wei)的(de)(de)(de)ATE(AutomaticTestEquipment)。這(zhe)里所(suo)說的(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)元器(qi)件DUT(DeviceUnderTest)，當然包(bao)括(kuo)IC類別(bie)，此外，還包(bao)括(kuo)分(fen)立(li)的(de)(de)(de)元件，器(qi)件。ATE存(cun)在(zai)于前道工(gong)序(FrontEnd)和后道工(gong)序(BackEnd)的(de)(de)(de)各(ge)(ge)個(ge)環節，具體的(de)(de)(de)取決于工(gong)藝(Process)設(she)(she)計(ji)的(de)(de)(de)要(yao)(yao)求。在(zai)元器(qi)件的(de)(de)(de)工(gong)藝流(liu)程(cheng)(cheng)(cheng)中，根據工(gong)藝的(de)(de)(de)需要(yao)(yao)，存(cun)在(zai)著(zhu)各(ge)(ge)種(zhong)(zhong)需要(yao)(yao)測(ce)試的(de)(de)(de)環節。目的(de)(de)(de)是(shi)(shi)為了(le)篩選(xuan)殘(can)次品，防止進入下(xia)一(yi)道的(de)(de)(de)工(gong)序，減少下(xia)一(yi)道工(gong)序中的(de)(de)(de)冗余的(de)(de)(de)制(zhi)造費用。這(zhe)些環節需要(yao)(yao)通(tong)過(guo)(guo)(guo)各(ge)(ge)種(zhong)(zhong)物理(li)參數來把握(wo)，這(zhe)些參數可以(yi)是(shi)(shi)現實(shi)物理(li)世界中的(de)(de)(de)光，電(dian)(dian)，波，力學(xue)(xue)等(deng)各(ge)(ge)種(zhong)(zhong)參量，但(dan)是(shi)(shi)，目前大多數常(chang)見的(de)(de)(de)是(shi)(shi)電(dian)(dian)子(zi)信(xin)(xin)號的(de)(de)(de)居多。ATE設(she)(she)計(ji)工(gong)程(cheng)(cheng)(cheng)師們要(yao)(yao)考慮的(de)(de)(de)較多的(de)(de)(de)，還是(shi)(shi)電(dian)(dian)子(zi)部(bu)分(fen)的(de)(de)(de)參數比如，時間(jian)，相位，電(dian)(dian)壓(ya)電(dian)(dian)流(liu)，等(deng)等(deng)基本(ben)的(de)(de)(de)物理(li)參數。就是(shi)(shi)電(dian)(dian)子(zi)學(xue)(xue)所(suo)說的(de)(de)(de)，信(xin)(xin)號處理(li)。

結(jie)構(gou)光(guang)(guang)柵型SPIPMP又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技(ji)術(shu)(shu)是(shi)(shi)一種(zhong)(zhong)基于正弦(xian)條(tiao)(tiao)紋投影和(he)位(wei)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)測量的(de)(de)(de)光(guang)(guang)學三(san)維面形(xing)(xing)測量技(ji)術(shu)(shu)。通過獲(huo)取全(quan)場條(tiao)(tiao)紋的(de)(de)(de)空間信(xin)(xin)息(xi)與(yu)(yu)一個(ge)條(tiao)(tiao)紋周(zhou)期(qi)內相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)條(tiao)(tiao)紋的(de)(de)(de)時序信(xin)(xin)息(xi)，來完(wan)成物體三(san)維信(xin)(xin)息(xi)的(de)(de)(de)重(zhong)(zhong)建。由于其具有(you)全(quan)場性(xing)、速度快、高(gao)精度、自動化(hua)程度高(gao)等(deng)特點，這種(zhong)(zhong)技(ji)術(shu)(shu)已在(zai)工(gong)業檢測、機(ji)器視覺、逆向工(gong)程等(deng)領域(yu)獲(huo)得(de)廣(guang)泛應用(yong)(yong)。目前大部分的(de)(de)(de)在(zai)線(xian)SPI設(she)備(bei)都已經升級(ji)到此種(zhong)(zhong)技(ji)術(shu)(shu)。但(dan)是(shi)(shi)它(ta)采用(yong)(yong)的(de)(de)(de)離散相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)技(ji)術(shu)(shu)要求有(you)精確(que)的(de)(de)(de)正弦(xian)結(jie)構(gou)光(guang)(guang)柵與(yu)(yu)精確(que)的(de)(de)(de)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)，在(zai)實際(ji)系統(tong)中不(bu)可避免(mian)地存在(zai)著光(guang)(guang)柵圖像的(de)(de)(de)非正弦(xian)化(hua)，相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)誤(wu)(wu)差(cha)與(yu)(yu)隨(sui)機(ji)誤(wu)(wu)差(cha)，它(ta)將導致計算位(wei)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)和(he)重(zhong)(zhong)建面形(xing)(xing)的(de)(de)(de)誤(wu)(wu)差(cha)。雖(sui)然已經出現了不(bu)少算法能(neng)降(jiang)低線(xian)性(xing)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)誤(wu)(wu)差(cha)，但(dan)要解決相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)過程中的(de)(de)(de)隨(sui)機(ji)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)誤(wu)(wu)差(cha)問(wen)題，還(huan)存在(zai)一定的(de)(de)(de)困難。AOI檢測設(she)備(bei)的(de)(de)(de)作(zuo)用(yong)(yong)有(you)哪些呢？

AOI的(de)(de)(de)(de)(de)(de)發展需求集成電(dian)路（IC）當然是(shi)(shi)現(xian)今人類(lei)工(gong)(gong)業(ye)制(zhi)造(zao)(zao)出來結(jie)(jie)構較為精(jing)(jing)(jing)細的(de)(de)(de)(de)(de)(de)人造(zao)(zao)物之一，而除了以IC為主的(de)(de)(de)(de)(de)(de)半(ban)導體制(zhi)造(zao)(zao)業(ye)，AOI亦在其他(ta)(ta)領域有很重要的(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)需求。①微型元件(jian)(jian)(jian)或結(jie)(jie)構的(de)(de)(de)(de)(de)(de)形貌以及關(guan)鍵(jian)尺寸(cun)量(liang)測(ce)(ce)，典型應用(yong)就是(shi)(shi)集成電(dian)路、芯片的(de)(de)(de)(de)(de)(de)制(zhi)造(zao)(zao)、封裝等，既需要高(gao)精(jing)(jing)(jing)度(du)又需要高(gao)效率的(de)(de)(de)(de)(de)(de)大量(liang)檢(jian)測(ce)(ce)②精(jing)(jing)(jing)密零(ling)件(jian)(jian)(jian)與(yu)制(zhi)程(cheng)(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)精(jing)(jing)(jing)密加工(gong)(gong)與(yu)檢(jian)測(ce)(ce)，典型應用(yong)就是(shi)(shi)針對(dui)工(gong)(gong)具機(ji)、航空(kong)航天器(qi)等高(gao)精(jing)(jing)(jing)度(du)機(ji)械零(ling)件(jian)(jian)(jian)進行相(xiang)(xiang)關(guan)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)粗糙度(du)、表面形狀等的(de)(de)(de)(de)(de)(de)量(liang)測(ce)(ce)，具有高(gao)精(jing)(jing)(jing)度(du)、量(liang)測(ce)(ce)條件(jian)(jian)(jian)多變等特(te)點③生(sheng)物醫(yi)學(xue)(xue)檢(jian)測(ce)(ce)應用(yong)，典型應用(yong)就是(shi)(shi)各式光學(xue)(xue)顯微鏡(jing)(jing)，結(jie)(jie)合相(xiang)(xiang)關(guan)程(cheng)(cheng)序編程(cheng)(cheng)、AI即可輔助判斷相(xiang)(xiang)關(guan)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)生(sheng)物、醫(yi)學(xue)(xue)信息判斷。④光學(xue)(xue)鏡(jing)(jing)頭(tou)或其他(ta)(ta)光學(xue)(xue)元件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)像差檢(jian)測(ce)(ce)解決相(xiang)(xiang)移誤差的(de)(de)(de)(de)(de)(de)新技(ji)術——PMP技(ji)術介紹。茂名多功能SPI檢(jian)測(ce)(ce)設備維保

素材查看(kan) SMT錫膏的印刷是SMT制程(cheng)中首道工(gong)序(xu)也是SMT生產工(gong)藝的重要環節(jie)，錫膏印刷質量直接影響焊接質量。河源直銷(xiao)SPI檢測設(she)備價格行情(qing)

在(zai)線(xian)(xian)SPI設備在(zai)實際(ji)(ji)應用中(zhong)出(chu)現(xian)的(de)(de)(de)(de)一(yi)些問題(ti)目前大(da)部(bu)分的(de)(de)(de)(de)SMT工(gong)(gong)(gong)廠(chang)都(dou)已經開始導入在(zai)線(xian)(xian)SPI設備，但(dan)是在(zai)實際(ji)(ji)使用過程(cheng)中(zhong)，效果也因(yin)各廠(chang)對其(qi)重視程(cheng)度而(er)大(da)不(bu)一(yi)樣。究其(qi)原因(yin)主(zhu)要有(you)(you)幾(ji)下幾(ji)點(dian)：品(pin)質重視不(bu)夠(gou)(gou)目前大(da)部(bu)分的(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)(gong)廠(chang)（特別(bie)是代工(gong)(gong)(gong)廠(chang)）在(zai)產能(neng)的(de)(de)(de)(de)管控上都(dou)非常的(de)(de)(de)(de)嚴(yan)(yan)格。但(dan)是往(wang)往(wang)對品(pin)質方面重視不(bu)夠(gou)(gou)。當(dang)錫膏不(bu)能(neng)達到(dao)(dao)SPI設備的(de)(de)(de)(de)管控范圍(wei)(wei)時，SPI一(yi)直會(hui)報警，沒(mei)有(you)(you)及時處理的(de)(de)(de)(de)話會(hui)嚴(yan)(yan)重影(ying)響產能(neng)。所以(yi)只要產線(xian)(xian)不(bu)出(chu)什么(me)大(da)問題(ti)。都(dou)會(hui)把(ba)SPI的(de)(de)(de)(de)管控參(can)數范圍(wei)(wei)設大(da)，提(ti)高一(yi)次(ci)通(tong)(tong)過率，但(dan)是這樣往(wang)往(wang)也會(hui)把(ba)真實的(de)(de)(de)(de)不(bu)良(liang)流到(dao)(dao)下一(yi)制程(cheng)，提(ti)高維修成本。目前有(you)(you)的(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)(gong)廠(chang)已經在(zai)SPI后端接一(yi)個(ge)收(shou)(shou)板箱(xiang)，當(dang)SPI測(ce)(ce)試OK的(de)(de)(de)(de)時候直接流入下一(yi)工(gong)(gong)(gong)序(xu)，Fail的(de)(de)(de)(de)時候會(hui)停留在(zai)收(shou)(shou)板箱(xiang)里面。等(deng)作業人員來確認當(dang)前電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)不(bu)良(liang)點(dian)位(wei)是否(fou)OK。一(yi)般SPI可(ke)以(yi)查詢十(shi)片(pian)電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)不(bu)良(liang)信息(xi)，如不(bu)良(liang)點(dian)位(wei)，不(bu)良(liang)圖片(pian)等(deng)。也有(you)(you)的(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)(gong)廠(chang)已經開始把(ba)SPI與(yu)AOI相連接，通(tong)(tong)過AOI測(ce)(ce)試到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)不(bu)良(liang)反饋給SPI來合(he)理的(de)(de)(de)(de)設定測(ce)(ce)試范圍(wei)(wei)與(yu)參(can)數，來提(ti)高一(yi)次(ci)通(tong)(tong)過率，減少不(bu)良(liang)流入下一(yi)工(gong)(gong)(gong)序(xu)。河源直銷SPI檢(jian)測(ce)(ce)設備價格行情

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