AOI光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)與人工(gong)(gong)視(shi)(shi)(shi)覺(jue)(jue)相(xiang)(xiang)比具(ju)有(you)一(yi)(yi)(yi)些優(you)點。下(xia)面是一(yi)(yi)(yi)些常(chang)見的(de)(de)(de)(de)比較：優(you)點：自(zi)動化和(he)(he)(he)(he)高效率：AOI光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)是自(zi)動化的(de)(de)(de)(de)過程(cheng)，利(li)用計(ji)算(suan)機(ji)和(he)(he)(he)(he)機(ji)器視(shi)(shi)(shi)覺(jue)(jue)技術對產(chan)品進行(xing)(xing)快速而準確(que)(que)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)。相(xiang)(xiang)比之(zhi)下(xia)，人工(gong)(gong)視(shi)(shi)(shi)覺(jue)(jue)需要(yao)人工(gong)(gong)操(cao)作員進行(xing)(xing)視(shi)(shi)(shi)覺(jue)(jue)檢(jian)(jian)(jian)查，速度較慢且容易受到主觀(guan)(guan)因(yin)素的(de)(de)(de)(de)影響。一(yi)(yi)(yi)致(zhi)性(xing)(xing)(xing)和(he)(he)(he)(he)準確(que)(que)性(xing)(xing)(xing)：AOI光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)系統(tong)(tong)使用相(xiang)(xiang)同的(de)(de)(de)(de)算(suan)法(fa)和(he)(he)(he)(he)參數，在(zai)相(xiang)(xiang)同的(de)(de)(de)(de)條件(jian)下(xia)對產(chan)品進行(xing)(xing)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)，可(ke)(ke)(ke)以(yi)實現一(yi)(yi)(yi)致(zhi)性(xing)(xing)(xing)和(he)(he)(he)(he)準確(que)(que)性(xing)(xing)(xing)。而人工(gong)(gong)視(shi)(shi)(shi)覺(jue)(jue)可(ke)(ke)(ke)能因(yin)為(wei)操(cao)作員的(de)(de)(de)(de)主觀(guan)(guan)判(pan)斷、疲(pi)勞或其(qi)他(ta)因(yin)素而導(dao)致(zhi)結(jie)果(guo)的(de)(de)(de)(de)變化。高速和(he)(he)(he)(he)大規(gui)模(mo)處(chu)理：AOI光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)系統(tong)(tong)可(ke)(ke)(ke)以(yi)在(zai)短時間內處(chu)理大量的(de)(de)(de)(de)產(chan)品，并(bing)實時提供檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)結(jie)果(guo)。這對于大規(gui)模(mo)生產(chan)環(huan)境非常(chang)重要(yao)。而人工(gong)(gong)視(shi)(shi)(shi)覺(jue)(jue)可(ke)(ke)(ke)能無法(fa)滿足高速和(he)(he)(he)(he)大規(gui)模(mo)處(chu)理的(de)(de)(de)(de)需求。缺陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)能力：AOI光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)系統(tong)(tong)通常(chang)可(ke)(ke)(ke)以(yi)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)微(wei)小的(de)(de)(de)(de)和(he)(he)(he)(he)難以(yi)察覺(jue)(jue)的(de)(de)(de)(de)缺陷(xian)，因(yin)為(wei)它們利(li)用高分辨(bian)率的(de)(de)(de)(de)相(xiang)(xiang)機(ji)和(he)(he)(he)(he)精確(que)(que)的(de)(de)(de)(de)圖(tu)像處(chu)理算(suan)法(fa)。這對于一(yi)(yi)(yi)些細(xi)微(wei)缺陷(xian)的(de)(de)(de)(de)產(chan)品是非常(chang)重要(yao)的(de)(de)(de)(de)。AOI光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)設(she)(she)(she)備還可(ke)(ke)(ke)以(yi)聯合其(qi)他(ta)軟(ruan)、硬件(jian)設(she)(she)(she)備，形成集成化檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)系統(tong)(tong)。浙江(jiang)視(shi)(shi)(shi)覺(jue)(jue)AOI光(guang)(guang)學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)設(she)(she)(she)備賣家

選擇(ze)(ze)(ze)適(shi)合(he)的(de)(de)(de)(de)AOI光學檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)需(xu)(xu)要(yao)(yao)(yao)(yao)考慮(lv)以下幾(ji)個方(fang)面(mian)：產品類(lei)型(xing)(xing)(xing)：不(bu)同(tong)類(lei)型(xing)(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)產品可(ke)能需(xu)(xu)要(yao)(yao)(yao)(yao)不(bu)同(tong)類(lei)型(xing)(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)。例如，對于電路(lu)板和(he)SMT組件的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)，通常(chang)可(ke)以選擇(ze)(ze)(ze)表(biao)面(mian)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)；而(er)對于焊點和(he)元件的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)，可(ke)能需(xu)(xu)要(yao)(yao)(yao)(yao)選擇(ze)(ze)(ze)X射(she)線(xian)或(huo)紅外檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)。檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)要(yao)(yao)(yao)(yao)求：根據產品的(de)(de)(de)(de)特定需(xu)(xu)求確定檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)(de)(de)精度(du)(du)要(yao)(yao)(yao)(yao)求和(he)功能要(yao)(yao)(yao)(yao)求。例如，某些(xie)產品可(ke)能需(xu)(xu)要(yao)(yao)(yao)(yao)高分(fen)辨率(lv)的(de)(de)(de)(de)圖像以檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)微小的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)，而(er)其他(ta)產品可(ke)能需(xu)(xu)要(yao)(yao)(yao)(yao)高速的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)速度(du)(du)。缺(que)陷(xian)類(lei)型(xing)(xing)(xing)：考慮(lv)待測(ce)(ce)(ce)(ce)試產品可(ke)能存在的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)類(lei)型(xing)(xing)(xing)。不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)對不(bu)同(tong)類(lei)型(xing)(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)有不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)能力(li)。某些(xie)系(xi)統(tong)(tong)可(ke)能更適(shi)合(he)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)表(biao)面(mian)缺(que)陷(xian)，而(er)其他(ta)系(xi)統(tong)(tong)可(ke)能更擅長(chang)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)內部缺(que)陷(xian)或(huo)焊點質量。預算(suan)限(xian)制：考慮(lv)可(ke)用(yong)的(de)(de)(de)(de)預算(suan)來選擇(ze)(ze)(ze)合(he)適(shi)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)。不(bu)同(tong)類(lei)型(xing)(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)AOI光學檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)價格不(bu)同(tong)，因此(ci)需(xu)(xu)要(yao)(yao)(yao)(yao)考慮(lv)經濟(ji)性和(he)性價比。可(ke)用(yong)資源和(he)技術(shu)支持(chi)(chi)：確認您的(de)(de)(de)(de)團(tuan)隊是(shi)否有足夠的(de)(de)(de)(de)技術(shu)能力(li)和(he)資源來支持(chi)(chi)所選擇(ze)(ze)(ze)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)。這包(bao)括人員培訓、設備維(wei)護和(he)技術(shu)支持(chi)(chi)。北京智(zhi)能AOI光學檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設備代理AOI光學檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設備操作簡單，方(fang)便(bian)操作員進行設備維(wei)護和(he)保養。

AOI光學檢(jian)測(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)可(ke)以(yi)通(tong)過以(yi)下方(fang)式進(jin)行(xing)(xing)數(shu)據分(fen)(fen)析(xi)和(he)處理：缺(que)陷(xian)(xian)統計分(fen)(fen)析(xi)：通(tong)過對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)結(jie)(jie)果中的(de)缺(que)陷(xian)(xian)進(jin)行(xing)(xing)統計分(fen)(fen)析(xi)，可(ke)以(yi)計算缺(que)陷(xian)(xian)的(de)數(shu)量(liang)、類型和(he)位置分(fen)(fen)布等信息。這有(you)助(zhu)于了解常(chang)見缺(que)陷(xian)(xian)模式，并針對(dui)性(xing)地采取措施改善生產(chan)(chan)過程。趨勢分(fen)(fen)析(xi)：通(tong)過比較(jiao)不同時間段的(de)檢(jian)測(ce)(ce)結(jie)(jie)果，可(ke)以(yi)研究(jiu)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)趨勢和(he)變化(hua)。這有(you)助(zhu)于識別生產(chan)(chan)過程中的(de)潛在(zai)問題，并做出及(ji)時的(de)調整和(he)改進(jin)。產(chan)(chan)品質量(liang)分(fen)(fen)析(xi)：將檢(jian)測(ce)(ce)結(jie)(jie)果與產(chan)(chan)品規范和(he)標(biao)準(zhun)進(jin)行(xing)(xing)比較(jiao)，可(ke)以(yi)評估(gu)產(chan)(chan)品的(de)質量(liang)水平(ping)。通(tong)過分(fen)(fen)析(xi)通(tong)過率、誤報率和(he)缺(que)陷(xian)(xian)率等指標(biao)，可(ke)以(yi)衡量(liang)產(chan)(chan)品性(xing)能，并確定生產(chan)(chan)線中的(de)瓶(ping)頸和(he)改善點。故(gu)障(zhang)分(fen)(fen)析(xi)：對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)結(jie)(jie)果中的(de)異常(chang)情(qing)況進(jin)行(xing)(xing)深入分(fen)(fen)析(xi)，可(ke)以(yi)識別設(she)備(bei)(bei)故(gu)障(zhang)或異常(chang)操作的(de)原因。這有(you)助(zhu)于快速診斷(duan)問題并采取修復(fu)措施，以(yi)確保設(she)備(bei)(bei)的(de)正(zheng)常(chang)運(yun)行(xing)(xing)。

AOI光(guang)(guang)(guang)學檢(jian)測(ce)系(xi)統出現過度(du)(du)(du)(du)修(xiu)(xiu)正(zheng)或(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)足修(xiu)(xiu)正(zheng)可(ke)(ke)(ke)能(neng)有以(yi)下幾個原因：參(can)數設置(zhi)不(bu)(bu)(bu)準確(que)：AOI系(xi)統需要(yao)根據被檢(jian)測(ce)元件(jian)的(de)(de)(de)(de)特性(xing)進行適當的(de)(de)(de)(de)參(can)數設置(zhi)，如(ru)(ru)(ru)曝光(guang)(guang)(guang)時(shi)間(jian)、對(dui)比度(du)(du)(du)(du)、靈(ling)敏度(du)(du)(du)(du)等。如(ru)(ru)(ru)果這(zhe)些參(can)數設置(zhi)不(bu)(bu)(bu)準確(que)，就(jiu)(jiu)會導(dao)致(zhi)(zhi)過度(du)(du)(du)(du)修(xiu)(xiu)正(zheng)或(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)足修(xiu)(xiu)正(zheng)。光(guang)(guang)(guang)照條件(jian)問題(ti)：光(guang)(guang)(guang)照條件(jian)對(dui)于AOI系(xi)統的(de)(de)(de)(de)性(xing)能(neng)至(zhi)關重要(yao)。如(ru)(ru)(ru)果光(guang)(guang)(guang)源的(de)(de)(de)(de)強度(du)(du)(du)(du)、角(jiao)度(du)(du)(du)(du)或(huo)(huo)均勻性(xing)存在問題(ti)，就(jiu)(jiu)可(ke)(ke)(ke)能(neng)導(dao)致(zhi)(zhi)過度(du)(du)(du)(du)修(xiu)(xiu)正(zheng)或(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)足修(xiu)(xiu)正(zheng)。例如(ru)(ru)(ru)，光(guang)(guang)(guang)源不(bu)(bu)(bu)均勻可(ke)(ke)(ke)能(neng)導(dao)致(zhi)(zhi)一些細(xi)小特征的(de)(de)(de)(de)過度(du)(du)(du)(du)修(xiu)(xiu)正(zheng)或(huo)(huo)忽略。元件(jian)表面反射性(xing)差異：不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)材(cai)料(liao)的(de)(de)(de)(de)元件(jian)表面反射性(xing)可(ke)(ke)(ke)能(neng)會導(dao)致(zhi)(zhi)光(guang)(guang)(guang)學檢(jian)測(ce)的(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)(bu)準確(que)性(xing)。一些材(cai)料(liao)可(ke)(ke)(ke)能(neng)具有較高的(de)(de)(de)(de)反射率(lv)，而其他材(cai)料(liao)可(ke)(ke)(ke)能(neng)具有較低的(de)(de)(de)(de)反射率(lv)。如(ru)(ru)(ru)果AOI系(xi)統未能(neng)準確(que)補償這(zhe)些差異，就(jiu)(jiu)會出現過度(du)(du)(du)(du)修(xiu)(xiu)正(zheng)或(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)足修(xiu)(xiu)正(zheng)。視(shi)覺算(suan)(suan)法(fa)(fa)問題(ti)：AOI系(xi)統使用的(de)(de)(de)(de)視(shi)覺算(suan)(suan)法(fa)(fa)對(dui)于識別和(he)修(xiu)(xiu)正(zheng)缺(que)(que)陷(xian)非常重要(yao)。不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)算(suan)(suan)法(fa)(fa)在處理不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)類型的(de)(de)(de)(de)元件(jian)或(huo)(huo)缺(que)(que)陷(xian)時(shi)可(ke)(ke)(ke)能(neng)表現不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)。如(ru)(ru)(ru)果算(suan)(suan)法(fa)(fa)設計不(bu)(bu)(bu)當或(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)適應特定的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)要(yao)求，就(jiu)(jiu)可(ke)(ke)(ke)能(neng)導(dao)致(zhi)(zhi)過度(du)(du)(du)(du)修(xiu)(xiu)正(zheng)或(huo)(huo)不(bu)(bu)(bu)足修(xiu)(xiu)正(zheng)。AOI光(guang)(guang)(guang)學檢(jian)測(ce)技(ji)術中還(huan)可(ke)(ke)(ke)加入人工智能(neng)，車(che)間(jian)數據智能(neng)化，提高電(dian)子產品的(de)(de)(de)(de)制造效(xiao)率(lv)和(he)品質(zhi)。

AOI光學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)在電(dian)(dian)子(zi)制(zhi)(zhi)造(zao)領(ling)域(yu)(yu)中(zhong)具有許多優勢，包(bao)括(kuo)：高(gao)(gao)(gao)速和(he)(he)高(gao)(gao)(gao)效：AOI設(she)備(bei)(bei)使(shi)用光學(xue)(xue)技術(shu)進行自動(dong)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)，能夠快速掃描(miao)并檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)子(zi)組(zu)(zu)件上的(de)(de)缺陷(xian)(xian)，可(ke)大(da)幅(fu)提高(gao)(gao)(gao)生(sheng)產效率和(he)(he)產品(pin)質量(liang)。非接(jie)觸式檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)：AOI設(she)備(bei)(bei)采用非接(jie)觸式光學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)技術(shu)，不(bu)會對被(bei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)物體造(zao)成(cheng)物理損(sun)(sun)害。與傳統的(de)(de)手工或機械檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)方(fang)法相比，非接(jie)觸式檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)可(ke)減(jian)少由于接(jie)觸損(sun)(sun)傷組(zu)(zu)件的(de)(de)風(feng)險。高(gao)(gao)(gao)精度：AOI設(she)備(bei)(bei)具備(bei)(bei)高(gao)(gao)(gao)分(fen)辨率和(he)(he)精確度，能夠檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)微(wei)小(xiao)的(de)(de)缺陷(xian)(xian)、焊接(jie)問題、引(yin)腳(jiao)偏移、短路等細微(wei)異(yi)常。多功能性：AOI設(she)備(bei)(bei)可(ke)應用于各(ge)種電(dian)(dian)子(zi)產品(pin)制(zhi)(zhi)造(zao)過(guo)程中(zhong)，包(bao)括(kuo)PCB板、芯(xin)片(pian)、電(dian)(dian)子(zi)組(zu)(zu)件等的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)。它(ta)可(ke)以(yi)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)路板上的(de)(de)組(zu)(zu)件安裝情況、焊接(jie)質量(liang)、引(yin)腳(jiao)正確性等。自動(dong)化(hua)和(he)(he)一(yi)(yi)致性：AOI設(she)備(bei)(bei)可(ke)以(yi)實現自動(dong)化(hua)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)，消(xiao)除了人工檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)主觀性和(he)(he)人員差(cha)異(yi)性，從而提高(gao)(gao)(gao)了檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)結(jie)果的(de)(de)一(yi)(yi)致性和(he)(he)可(ke)靠(kao)性。缺陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)和(he)(he)分(fen)類：AOI設(she)備(bei)(bei)能夠檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)和(he)(he)分(fen)類各(ge)種類型的(de)(de)缺陷(xian)(xian)，如(ru)短路、開路、連錫等，有助于及時發現和(he)(he)糾正制(zhi)(zhi)造(zao)過(guo)程中(zhong)的(de)(de)問題，提高(gao)(gao)(gao)產品(pin)質量(liang)和(he)(he)可(ke)靠(kao)性。AOI光學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)技術(shu)應用非常普遍，包(bao)括(kuo)電(dian)(dian)子(zi)、半導體、醫療等領(ling)域(yu)(yu)。南京一(yi)(yi)鍵編程AOI光學(xue)(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)插件

AOI光學檢測設(she)備(bei)采用雙光源、三角形等(deng)多種掃描方式實現更加準確和高效的檢測。浙江(jiang)視覺(jue)AOI光學檢測設(she)備(bei)賣家(jia)

AOI光學檢測(ce)(ce)設(she)備(bei)可(ke)以(yi)(yi)(yi)采取(qu)(qu)以(yi)(yi)(yi)下方法來應對微(wei)(wei)(wei)(wei)型(xing)化元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)：高(gao)(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)：微(wei)(wei)(wei)(wei)型(xing)化元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)通常(chang)具有(you)(you)非常(chang)小的(de)(de)(de)尺(chi)寸(cun)(cun)和(he)(he)高(gao)(gao)密(mi)度(du)的(de)(de)(de)器(qi)件(jian)，因(yin)此，AOI設(she)備(bei)需要具備(bei)高(gao)(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)的(de)(de)(de)成像(xiang)能(neng)(neng)力(li)，才能(neng)(neng)準確(que)地(di)檢測(ce)(ce)和(he)(he)分(fen)析(xi)這(zhe)些細小的(de)(de)(de)結構。現(xian)代的(de)(de)(de)AOI設(she)備(bei)通常(chang)具有(you)(you)高(gao)(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)的(de)(de)(de)圖像(xiang)傳感器(qi)和(he)(he)先進(jin)的(de)(de)(de)光學系統，可(ke)以(yi)(yi)(yi)實現(xian)對微(wei)(wei)(wei)(wei)小尺(chi)寸(cun)(cun)器(qi)件(jian)的(de)(de)(de)清(qing)晰(xi)成像(xiang)。多角度(du)檢測(ce)(ce)：一些微(wei)(wei)(wei)(wei)型(xing)化元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)的(de)(de)(de)特征可(ke)能(neng)(neng)只能(neng)(neng)在(zai)(zai)特定角度(du)下才能(neng)(neng)被(bei)正確(que)檢測(ce)(ce)到。因(yin)此，AOI設(she)備(bei)可(ke)能(neng)(neng)具備(bei)多個角度(du)的(de)(de)(de)觀察能(neng)(neng)力(li)，通過分(fen)析(xi)不(bu)(bu)同角度(du)的(de)(de)(de)圖像(xiang)來獲取(qu)(qu)更多方面(mian)的(de)(de)(de)信(xin)息(xi)。這(zhe)樣可(ke)以(yi)(yi)(yi)提高(gao)(gao)對微(wei)(wei)(wei)(wei)型(xing)化元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)準確(que)性。自(zi)動(dong)(dong)聚(ju)焦(jiao)和(he)(he)自(zi)動(dong)(dong)對焦(jiao)：微(wei)(wei)(wei)(wei)型(xing)化元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)通常(chang)具有(you)(you)不(bu)(bu)同的(de)(de)(de)高(gao)(gao)度(du)和(he)(he)復雜的(de)(de)(de)三(san)維結構。為(wei)了在(zai)(zai)整個表面(mian)范圍(wei)內(nei)進(jin)行準確(que)的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)，AOI設(she)備(bei)通常(chang)配備(bei)自(zi)動(dong)(dong)聚(ju)焦(jiao)和(he)(he)自(zi)動(dong)(dong)對焦(jiao)功能(neng)(neng)，以(yi)(yi)(yi)確(que)保不(bu)(bu)同區(qu)域(yu)都能(neng)(neng)夠得(de)到清(qing)晰(xi)的(de)(de)(de)圖像(xiang)。這(zhe)樣可(ke)以(yi)(yi)(yi)在(zai)(zai)不(bu)(bu)損失精度(du)的(de)(de)(de)情況下適(shi)應不(bu)(bu)同尺(chi)寸(cun)(cun)和(he)(he)高(gao)(gao)度(du)的(de)(de)(de)微(wei)(wei)(wei)(wei)型(xing)化元(yuan)(yuan)件(jian)和(he)(he)芯片(pian)。浙(zhe)江視覺(jue)AOI光學檢測(ce)(ce)設(she)備(bei)賣家

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